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邀请函 | 颗粒表征方法研讨会(西安站)

2021-04-19

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尊敬的老师:

Microtrac MRB将联合旗下麦奇克激光粒度粒形分析仪,拜尔比表面及孔隙度分析仪和化学吸附仪,麦奇克莱驰多功能粒度粒形分析仪,首次在中国西安举办“颗粒表征方法的技术研讨会”。

大昌华嘉公司与弗尔德仪器联合举办“颗粒表征方法研讨会”将于  2021 年5月 19 日 在西安万丽酒店举行,届时将由应用专家与大家共同探讨颗粒表征分析技术及应用。

 

Microtrac MRB作为一个颗粒表征解决方案的供应商,提供三条产品线,在三大洲拥有研发和技术中心。

散射光分折: Microtrac MRB作为粒度测量的通用方法—静态激光衍射法的领导者,还提供的动态光散射纳米粒度仪,用于纳米颗粒的表征。该产品线的开发和生产地点位于美国的宾夕法尼亚州。

图像分析: Microtrac MRB基于动态图像分析技术,为颗粒大小和形态的测定提供了高质量的CAMSIZER系列和PartAn系列测量系统。这些图像分析仪的开发和生产地点位于德国的哈恩。

比表面和孔径测量: Microtrac MRB的另外一条产品线采用气体吸附法为粉体样品的比表面值,BET值和孔径测量提供了吸附系列的分析仪器。开发和生产以及装配地点位于日本大阪的表面分析能力中心。


日程:

5月19日

09:00-09:15       欢迎词

09:15-10:20       颗粒的大小和形态表征方法介绍以及应用案例分享  

10:20-10:40       茶歇

10:40-11:45       从微米级增材粉体到毫米级大颗粒

-高速多功能动态图像法粒度仪介绍及应用分析

11:45-12:00       轮抽奖活动

12:00-13:00       午餐

13:00-14:30       吸附技术介绍以及应用案例分享

14:30-15:10       仪器演示

15:10-15:30       第二轮抽奖活动

15:30-16:30       问题讨论

 

备注:

请您收到通知后在2021年5月10日之前将报名表回执回传 ,以便安排会场、用餐等事宜。


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