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PANalytical X 射线分析技术研讨会,共同探讨X 射线分析技术的新发展!发布时间:2016/05/18 18:09:58

X 射线分析仪器技术是近年来迅速发展的一门分析技术,它可在材料研究、分析以及各种工业过程和质量控制中测定从金属、矿物、油和其他液体一直到塑料、药物、陶瓷材料、纳米材料及半导体等各种材料的化学成分和晶体结构。


为了与X 射线分析仪器界的同仁共同携手促进X 射线分析仪器的发展和广泛交流最新的研究进展,陕西省分析测试协会荷兰帕纳科公司(PANalytical B.V.)将于2016年5 月26 日(周四)在古城西安举办“帕纳科最新X 射线分析技术研讨会”,届时将向您介绍X 射线荧光光谱分析的最新进展!



与此同时,帕纳科还将现场展示最新推出EDXRF 能谱仪台式一体机—Epsilon1,您将看到其为不同行业量身定做的多种解决方案!特此邀请您光临出席此次研讨会,共同探讨X 射线分析仪器技术的发展!


会议信息
2016 年5 月26 日  中国 - 西安
主办单位:陕西省分析测试协会
                 荷兰帕纳科公司
时间:08:30-17:00
地点:西安富凯禧玥酒店

会议地址:西安市南新街27 号(新城广场东南角)


TimeProgress
08:30-09:00报到登记
09:00-09:15

致欢迎辞
陕西省分析测试协会领导致辞

09:20-10:30帕纳科X 射线衍射系统(XRD)的多领域应用
10:30-10:45茶歇
10:45-12:00X 射线荧光光谱技术最新发展
12:00-14:00午餐
14:00-15:00帕纳科XRF 在地质行业及环保领域的优势与应用
15:00-16:30

帕纳科小型台式能量色散X 射线荧光光谱仪——Epsilon1 现场演示


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